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气密性测试中涌现负值的原因
点击次数:1899 发布时间:2017-06-07

    在我们Trunchi检漏仪长期测试过程中,根据实验数据及测试,我们断定在测试过程中设备涌现负压的原因;

    根据我们多年的经验和实践论证,涌现负压重要包含以下几个方面:

1.体积影响

   这包含测试回路中由于气压导致内部体积渺小变更或塑料件等受压力影响产生变形,由于这些原因,使得体积产生变更,导致测试压力增长,从而产生了负压;

北京快乐82.测试阶段的时间过短

北京快乐8    由于各阶段的时间设置过短,导致在测试阶段测试的压力不牢固,导致出线负压;可以适当增长各阶段的时间来改良

3.温度的影响

     如果在测试过程中留有残余的温度(如由于产品焊接过程残留的剩余温度,导致内部温度不牢固)

 

   总之,测试过程中小的负压是无害的,为了限定这个轻微的数据干扰,我们限定负压的极限值为-10PA,更多的技巧材料,请北京快乐8北京快乐8;

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